多映光电(深圳)有限公司
全彩LED光源模组研发生产厂家户外led模组品牌厂家丨led全彩模组丨led显示屏模组
全国咨询热线:131-6376-0646萧工欢迎广大客户咨询
帮您解决led模组选择难题、超声波模组、NC模组、注塑模组、灯箱模组光源厂家

LED标准

时间:2022-05-25 15:52:36 来源:网编 浏览:797

【摘要】LED标准现在,随着半导体照明产业的快速发展,国际间LED测试基准的制定相当重视。美国国家标准检测研究所像(NIST)那样进行LED试验方法的研究,做好了确立一系列LED测试方法和基准的准备。日本也设立了“白光......

LED标准

现在,随着半导体照明产业的快速发展,国际间LED测试基准的制定相当重视。美国国家标准检测研究所像(NIST)那样进行LED试验方法的研究,做好了确立一系列LED测试方法和基准的准备。日本也设立了“白光LED考试研究委员会”,专门研究照明用白光LED的考试方法和技术基准。

世界发达国家为了夺取LED的先机,在LED标准和测试方面投入了大量人力物力,在标准方面重视LED特性参数的选择和测试方法的研究。同时,许多国外大企业的研发人员积极参加国家和国际专业化组织,制定半导体照明测试标准。例如,过去美国Lumileds和日本Nichia分别发表LED技术交叉许可证,共同制定电力型LED基准,准备推进市场应用。

照明LED标准以及检测技术的现状国际照明委员会CIE以及国际电工委员会IEC没有与LED照明相关的标准。严格如上所述,在海外现在没有命名为半导体照明的规格,只有通常LED的测试规格和与通常的光源相关的照明相关的规格。一般LED的考试基准是1。IEC60747)-5Semiconductordevices Discrete devices和integrated circuits(1992)IEC60747-5半导体分立器件以及积体电路2。IEC60747)-5-2 DiscreteSemiconductordevices and integrated circuits-part5-2:Optiolectronic devices-Essential ratings和characteristics(1997-09)-5-2分立半导体器件及积体电路组件5-2:光电子器件分类特徵及要素(1997-09)3。IEC60747)-5-3 DiscreteSemiconductordevices and integrated circuits-part5-3:Optioelectronic devices-Measuring methods(1997-08)IEC60747-5-3分立半导体器件及积体电路组件5-3:光电子器件试验方法(1997-08)4。IEC60747-12-3 Semiconductor devices-part12-3: optoelectronic devices ndash;Blank detail specification for light-emitting diodes ndash;Display应用程序(1998-02)IEC60747-12-3半导体分立器件12-3:光电子设备显示用发光二极体空白详细基准(1998-02)5。CIE)127-1997 Measurement ofLEDs(1997)CIE127-1997LED试验方法(1997)6。CIE/ISOstandards onLEDintensity measurementsCIE/ISOLED强度测试标准

国际照明委员会CIE1997年发表的CIE127-1997LED试验方法将LED强度测试决定为平均强度的概念,规定了统一的测试结构和检测器的大小,LED建立了正确的试验比的基础。CIE127-1997的考试方法虽然不是国际标准,但是容易实施正确的考试比例对,现在世界主要企业正在采用。但是,随着技术的快速发展,许多新的LED技术特性CIE127?1997LED试验方法不相关。

现在,市场有了新的发展,日本正在努力建立完整的LED标准,随着相关标准越来越明确,LED产业的发展会更加稳定。

最新文章:

在线客服